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SYSTÈME DE MESURE ET CONTRÔLE |
Thèmes
abordés :
 | Interférométrie |
| Comptage de franges |
| Effet piézo-électrique, hystérésis |
| Asservissement |
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Éléments de cours facilitant la
compréhension du système :
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Liens :
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Mesure de l'hystérésis d'un translateur
piézo-électrique avec une résolution de 80 nm |
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Interféromètre de Michelson
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Plan du T.P. :
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Analyse fonctionnelle du système
- Analyse descendante SADT
- Étude
du système interférométrique |
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Mise en oeuvre du système
- Déplacement piézo-électrique du miroir
Mpz
- Jauge de déformation
- Étude du
déplacement piézo et étalonnage jauge
- Pilotage informatisé
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Analyse des performances du système
- Hystérésis
- Étude du
déplacement piézo
- Étalonnage
de la jauge de déformation et simulation
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| Sujet de T.P.
et de compte-rendu : |
Les logiciels relatifs à ce TP sont disponibles
sur la page
Logiciels |
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| Dossier technique :
Dt.pdf,
Dt.zip |
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Fichiers de simulation électronique en GOP2 :
Simulation |
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Partie informatique sous labview7 :
Info.zip
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Dernière mise à jour : |
