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SYSTÈME DE MESURE ET CONTRÔLE |
Thèmes
abordés :
 | Fonction d'appareil |
| Sonde de cohérence et VSI (vertical
scanning interferometry) |
| Projection de franges et PSI (phase
shifting interferometry) |
| Mesure de formes et rugosités |
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Éléments de cours facilitant la
compréhension du système :
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Liens :
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Microscope interférentiel Wyko NT 1100
Acquisition avec objectif de Mirau X 20 |
Plan du T.P. :
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Analyse fonctionnelle du système
- Fonction d'appareil
- Techniques de mesure VSI et PSI |
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Mise en oeuvre du système
- Etalonnage
- Mesures de profils
- Mesures de rugosités
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Analyse des performances du système
- Etude de courbures, de stries, de
rugosités
- Calibration en PSI et VSI
- Performances : justesse,
reproductibilité, résolution
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Logiciel VSI_PSI. Ex : Mode PSI avec un
interféromètre de Michelson
Image phasée
Image masque
Image démodulée
Visualisation 3D
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| Sujet de T.P.
et de compte-rendu : Tp.pdf,
Cr.pdf |
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| Dossier technique :
Dt.pdf |
| Fichier
spécifique :
microinterf.xls (Fichier au format
zip) |
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Dernière mise à jour :
microinterfer.xls |
